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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (Anglais) Relié – septembre 2002


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Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis An ideal text for students as well as practitioners, this is a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Full description


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The scanning electron microscope (SEM) permits the observation and characterization of heterogeneous organic and inorganic materials on a nanometer (nm) to micrometer (m) scale. Lire la première page
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Amazon.com: 13 commentaires
6 internautes sur 6 ont trouvé ce commentaire utile 
The Bible of All Scanning Electron Microscopy Books 20 septembre 2008
Par Phillip - Publié sur Amazon.com
Format: Relié Achat vérifié
If you are like me and had to use a Scanning Electron Microscope or SEM, you want to start with the basics that everyone goes by. This book is a safe bet that most everyone knows about. Plus, it is written with very little background in the world of electron microscopy. Too many authors to list but it's wonderful that alot of experts got together to present this material in clear, concise manner. Before you grab your solid-state physics book or check Wikipedia, just relax and page through it since this book pretty much makes it easy for you.

Chapters are arranged by the following: What is SEM?, How SEM works?, and Why are we interested with SEM? That's the easiest way to explain rather than list all the chapters. If you have a specific question, you don't even have to read through the previous chapters (if you have rough understanding). The size of this book is a BIG PLUS. It's compact compared to the monsterous Transmission Electron Microscopy (TEM) book by Barry Carter which is another great reference. For this price, you would be lucky to find another good reference book under $100 with such relevant information.
2 internautes sur 2 ont trouvé ce commentaire utile 
Great guide 8 octobre 2012
Par Tomasz - Publié sur Amazon.com
Format: Relié Achat vérifié
Great guide for all Microscopists and Servicemen as me. Third edition explaines much more than previous one and it is easy to use due to well done contents.
2 internautes sur 2 ont trouvé ce commentaire utile 
Awsome book for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Analysis 10 mars 2006
Par Anant Raina - Publié sur Amazon.com
Format: Relié
This book covers almost all aspects of the subject and the CD attached covers the recent development in the field.

This is the book one should have for the subject.
1 internautes sur 1 ont trouvé ce commentaire utile 
Excellent so far. 12 novembre 2009
Par TFM3 - Publié sur Amazon.com
Format: Relié Achat vérifié
I'm reading this book and an older edition of the Reimer text for in independent study course in SEM. While I'm only three chapters into both texts, the Goldstein text seems more readable. I like the writing style, and it doesn't seem to sacrifice in any technical aspect.

It is also very well illustrated. For a book about an imaging technology, this is obviously quite important. There are many instances where there are sets of images to compare the results achieved with varied operating parameters.

The text is well organized. It begins with an assumption that you know some basic physics and chemistry, but doesn't require any background in microscopy. Both the Table of Contents and Index are detailed enough to enable specific searches for specific subject matter.

This is a textbook I look forward to reading in the evening, and one that I look forward to finishing. It matches very well with the practical work I'm doing on the SEM.
1 internautes sur 1 ont trouvé ce commentaire utile 
A MUST have 12 septembre 2013
Par Theodoros Koutsoukis - Publié sur Amazon.com
Format: Relié Achat vérifié
Includes all the basic terms and features than one is needed when begins electron microscopy, but also for the experienced ones to look back at various troubles they come up with during the use of SEM or XRD
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